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GDD测量仪—Chromatis

    Chromatis是世界上第一款也是唯一一款工业化的检测光学元器件群延迟色散的设备。Chromatis界面友好、自校准、高精度、方便操作,可以快速、准确地表征光学元件和镀膜的色散性能,确保超快激光系统、多层反射镜、多量子阱结构等在最佳性能下实验。


    产品特点:

    ● 群延时色散±5fs

    ● 可同时测量两种偏振态

    ● 快速测量,一次仅需要几秒钟

    ● 内置He-Ne参考激光自校准,无需光谱仪校准

    ● 包含反射和透射参考校准光路

    ● 用户可根据需求自行更换的探测器模块

    ● 简单、直观的用户操作软件界面

    ● 可以根据客户需要定制系统


Chromatis是世界上第一款也是唯一一款工业化的检测光学元器件群延迟色散的设备。Chromatis界面友好、自校准、高精度、方便操作,可以快速、准确地表征光学元件和镀膜的色散性能,确保超快激光系统、多层反射镜、多量子阱结构等在最佳性能下实验。


产品特点:

● 群延时色散±5fs

● 可同时测量两种偏振态

● 快速测量,一次仅需要几秒钟

● 内置He-Ne参考激光自校准,无需光谱仪校准

● 包含反射和透射参考校准光路

● 用户可根据需求自行更换的探测器模块

● 简单、直观的用户操作软件界面

● 可以根据客户需要定制系统


主要应用

● 验证镀膜设计

● 光学检查

● QA/QC计量确认


主要参数

参数

Chromatis

群延迟色散(GDD)分辨率

±5fs

偏振

同时的测量s p偏振

标准光学尺寸

1 inch (25 mm)

可选光学尺寸

2 inch (50 mm)

标准测量模式

Reflection 0° Angle of Incidence (AOI)

Reflection 5° - 70° AOI

Transmission 0° - 70° AOI



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